Dear MEEP users,
I´m wondering if it is possible to get the value (n,k) from a dispersive defined material for a particular frequency. For example, if you have the following material: (define-param silicon (make dielectric (epsilon 1.5) (E-susceptibilities (make lorentzian-susceptibility (frequency 3.64) (gamma 0) (sigma 8)) (make lorentzian-susceptibility (frequency 2.76) (gamma (* 0.063 2)) (sigma 2.85)) (make lorentzian-susceptibility (frequency 1.73) (gamma (* 2.5 2)) (sigma -0.107)) ))) Is it possible to do something like this: get_n_real(frequency=1, material=silicon) get_n_img (frequency=1, material=silicon) Someone knows an easy way to implement this function in MEEP? Thank you very much and best regards, Oscar García FideNa 8 <http://www.fidena.es/> www.fidena.es | ' +34 948166177 | 6 +34 948166211 Tanto el presente mensaje como cualquier material adjunto a él han sido enviados por FideNa, y son propiedad de FideNa o han sido utilizados por FideNa con permiso de sus propietarios. Es por tanto material potencialmente confidencial que no se difundirá ni utilizará en manera alguna sin el consentimiento escrito previo de FideNa.
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